检测范围
综合应力筛选与寿命评价主要检测筛选应力历程、缺陷检出率，服务对象包括电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选、温度循环、振动和通断组合筛选程序，覆盖来样登记、检测实施和报告交付。
筛选应力历程
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。
电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选
温度循环、振动和通断组合筛选程序
样品、目标参数和报告用途
产品规格、薄弱部件和历史故障清单
综合应力筛选与寿命评价检测报告 + 检测数据与图表
综合应力筛选与寿命评价检测报告
项目技术要点
实施流程
1. 围绕筛选应力历程建立综合应力筛选与寿命评价对象清单，写入产品规格、薄弱部件和历史故障清单；2. 对温度范围、循环速率、振动谱和通电程序逐件编号，采集筛选应力历程初值并保存状态图像；3. 依照筛选与鉴定数据分开运行综合应力筛选与寿命评价程序，同时读取缺陷检出率；4. 到功能参数漂移检查节点测量寿命消耗评价，把异常对应至综合应力筛选与寿命评价时间轴；5. 汇总复筛与故障闭环与筛选应力历程曲线，完成综合应力筛选与寿命评价数据复核
筛选与鉴定数据分开
生产筛选采用固定程序，设计极限探索单独标识，不混合统计。
应力不过度破坏
温度速率、振动响应和通电负载受监测，避免诱发非使用机理损伤。
故障闭环到序列号
样机、失效件、维修措施和复筛数据建立一一对应关系。
适用产品与样品
综合应力筛选与寿命评价适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品与技术问题
- 电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选
- 温度循环、振动和通断组合筛选程序
- 生产批次早期故障剔除与工艺反馈
- 筛选强度设计、寿命消耗和缺陷统计
样品与委托资料
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
产品规格、薄弱部件和历史故障清单
- 02
温度范围、循环速率、振动谱和通电程序
- 03
筛选前后功能参数与样机序列号
- 04
故障修复、失效分析和复筛记录
产品规格、薄弱部件和历史故障清单。样品量包含制样损耗、平行样和留样需求。
综合应力筛选与寿命评价列明样品、项目、方法、开始时间与报告交付日期，并同步安排复杂前处理和多模块测试。
主要提供综合应力筛选与寿命评价检测报告、筛选应力历程与缺陷检出率原始数据，其他数据和附件在委托单中列明。
收样、制样、测试、数据复核和报告输出由项目负责人统一衔接。
检测项目
筛选应力历程
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。
缺陷检出率
统计筛选阶段暴露的焊接、装配、元件和连接类缺陷。
功能参数漂移
比较筛选前后输出、绝缘、通信、功耗和校准值变化。
寿命消耗评价
结合材料疲劳、温度加速和任务载荷估算筛选带来的耐久消耗。
复筛与故障闭环
记录修复后复筛结果、重复故障和工艺纠正对应批次。
检测方法与实施流程
检测需求
围绕综合应力筛选与寿命评价列明样品、目标参数、方法标准和报告用途。
样品登记
产品规格、薄弱部件和历史故障清单
完成前处理或制样
根据综合应力筛选与寿命评价和筛选应力历程、缺陷检出率的测试条件处理样品。
完成仪器测试
使用综合应力筛选与寿命评价按规定参数完成筛选应力历程、缺陷检出率和过程质量控制。
复核检测数据
重点检查筛选应力历程、缺陷检出率对应的图谱、曲线、图像或数据表。
交付报告和附件
提供综合应力筛选与寿命评价检测报告、筛选应力历程与缺陷检出率原始数据及约定附件。
标准与方法依据
以下列出综合应力筛选与寿命评价采用的正式标准与执行依据，包含标准编号、适用项目和发布来源。
共 3 项
疲劳与寿命数据统计分析需要记录试样、应力、失效定义、截尾数据、拟合模型和置信水平。
ISO 12107:2012规定金属材料疲劳数据的统计规划和分析方法。
ISO 12107:2012—Statistical planning and analysis of fatigue data报告与交付内容
报告列明实际样品、检测方法、测试条件、结果和约定附件。
报告同步提供质量控制、数据复核和判定依据等项目记录。
样品、批次、工况或标准发生变化时，按新条件开展补充检测。
报告支持CMA/CNAS标识、合格判定及英文版本，相关要求可在需求表中注明。常见问题
01综合应力筛选与寿命评价里的筛选应力历程和缺陷检出率为什么要按同一历程比较？
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。统计筛选阶段暴露的焊接、装配、元件和连接类缺陷。把筛选应力历程和缺陷检出率在综合应力筛选与寿命评价中按筛选应力历程序号排列，可识别两项变化先后。
02综合应力筛选与寿命评价项目记录功能参数漂移时，怎样控制测量波动？
生产筛选采用固定程序，设计极限探索单独标识，不混合统计。每次读取功能参数漂移沿用应力不过度破坏，并关联综合应力筛选与寿命评价设备日志。
03综合应力筛选与寿命评价怎样安排产品规格、薄弱部件和历史故障清单与温度范围、循环速率、振动谱和通电程序？
以电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选作为主组，再按温度范围、循环速率、振动谱和通电程序分层；温度速率、振动响应和通电负载受监测，避免诱发非使用机理损伤。
04综合应力筛选与寿命评价的寿命消耗评价突变后，先看筛选应力历程还是缺陷检出率记录？
先将寿命消耗评价时刻与筛选应力历程、缺陷检出率和筛选与鉴定数据分开对齐，再结合结合材料疲劳、温度加速和任务载荷估算筛选带来的耐久消耗。
05综合应力筛选与寿命评价在哪些节点读取复筛与故障闭环更能反映过程？
在初始点、功能参数漂移阶段点和结束点记录复筛与故障闭环；样机、失效件、维修措施和复筛数据建立一一对应关系。
06复筛与故障闭环未达到设定终点，综合应力筛选与寿命评价结果怎样记录？
写明综合应力筛选与寿命评价实际历程、复筛与故障闭环状态及停止原因；末次功能参数漂移跟随单件编号保存。
07综合应力筛选与寿命评价为何保留筛选应力历程曲线，不用缺陷检出率平均值替代？
曲线呈现筛选应力历程的峰值和离散；结合缺陷检出率与复筛与故障闭环可识别均值掩盖的单件异常。
08综合应力筛选与寿命评价报告如何用功能参数漂移呈现样品差异，并用故障闭环到序列号说明设备稳定？
以功能参数漂移平行样统计表示样品差异，用故障闭环到序列号记录说明设备稳定，二者不合并。