检测范围
综合应力筛选与寿命评价覆盖电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选、温度循环、振动和通断组合筛选程序，测量筛选应力历程、缺陷检出率和功能参数漂移。试验记录产品规格、薄弱部件和历史故障清单与筛选与鉴定数据分开，输出寿命消耗评价、复筛与故障闭环及曲线数据，用于筛选强度设计、寿命消耗和缺陷统计。
筛选应力历程
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。
对象与条件
电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选 温度循环、振动和通断组合筛选程序 生产批次早期故障剔除与工艺反馈 筛选强度设计、寿命消耗和缺陷统计
需要注意的限制
综合应力筛选与寿命评价报告对应本次样品、配置、程序和测点；材料批次、结构、软件、安装、载荷、环境或判定规则变化后按新条件复核 寿命换算取决于失效机理一致、加速模型、样本量和任务剖面；未验证机理或少量无失效数据不能直接承诺整批实际寿命 环境应力与综合可靠性结果与实际样品、标准版本、试验等级、持续时间、环境、安装、负载、软件状态、测点、数据处理和判定规则对应，不同方法的数据完成等效性确认后比较 环境应力与综合可靠性交付事实数据和约定评价，产品设计、生产放行、认证发证、法定检定、运输批准、现场安全管理及监管决定按相应程序执行
检测时需要注意什么
实施流程
1. 围绕筛选应力历程建立综合应力筛选与寿命评价对象清单，写入产品规格、薄弱部件和历史故障清单；2. 对温度范围、循环速率、振动谱和通电程序逐件编号，采集筛选应力历程初值并保存状态图像；3. 依照筛选与鉴定数据分开运行综合应力筛选与寿命评价程序，同时读取缺陷检出率；4. 到功能参数漂移检查节点测量寿命消耗评价，把异常对应至综合应力筛选与寿命评价时间轴；5. 汇总复筛与故障闭环与筛选应力历程曲线，完成综合应力筛选与寿命评价数据复核
筛选与鉴定数据分开
生产筛选采用固定程序，设计极限探索单独标识，不混合统计。
应力不过度破坏
温度速率、振动响应和通电负载受监测，避免诱发非使用机理损伤。
故障闭环到序列号
样机、失效件、维修措施和复筛数据建立一一对应关系。
适用产品与样品
综合应力筛选与寿命评价适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选
- 温度循环、振动和通断组合筛选程序
- 生产批次早期故障剔除与工艺反馈
- 筛选强度设计、寿命消耗和缺陷统计
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
产品规格、薄弱部件和历史故障清单
- 02
温度范围、循环速率、振动谱和通电程序
- 03
筛选前后功能参数与样机序列号
- 04
故障修复、失效分析和复筛记录
产品规格、薄弱部件和历史故障清单 温度范围、循环速率、振动谱和通电程序 筛选前后功能参数与样机序列号 故障修复、失效分析和复筛记录
综合应力筛选与寿命评价检测报告 筛选应力历程与缺陷检出率原始数据 功能参数漂移阶段趋势与统计表 寿命消耗评价曲线或对比图 复筛与故障闭环照片及失效记录
检测项目
筛选应力历程
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。
缺陷检出率
统计筛选阶段暴露的焊接、装配、元件和连接类缺陷。
功能参数漂移
比较筛选前后输出、绝缘、通信、功耗和校准值变化。
寿命消耗评价
结合材料疲劳、温度加速和任务载荷估算筛选带来的耐久消耗。
复筛与故障闭环
记录修复后复筛结果、重复故障和工艺纠正对应批次。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 3 项
疲劳与寿命数据统计分析需要记录试样、应力、失效定义、截尾数据、拟合模型和置信水平。
ISO 12107:2012规定金属材料疲劳数据的统计规划和分析方法。
ISO 12107:2012—Statistical planning and analysis of fatigue data报告和检测数据
综合应力筛选与寿命评价报告对应本次样品、配置、程序和测点；材料批次、结构、软件、安装、载荷、环境或判定规则变化后按新条件复核
寿命换算取决于失效机理一致、加速模型、样本量和任务剖面；未验证机理或少量无失效数据不能直接承诺整批实际寿命
环境应力与综合可靠性结果与实际样品、标准版本、试验等级、持续时间、环境、安装、负载、软件状态、测点、数据处理和判定规则对应，不同方法的数据完成等效性确认后比较
环境应力与综合可靠性交付事实数据和约定评价，产品设计、生产放行、认证发证、法定检定、运输批准、现场安全管理及监管决定按相应程序执行
常见问题
01综合应力筛选与寿命评价里的筛选应力历程和缺陷检出率为什么要按同一历程比较？
逐件记录温度循环、振动量级、通断次数和实际持续时间。统计筛选阶段暴露的焊接、装配、元件和连接类缺陷。把筛选应力历程和缺陷检出率在综合应力筛选与寿命评价中按筛选应力历程序号排列，可识别两项变化先后。
02综合应力筛选与寿命评价项目记录功能参数漂移时，怎样控制测量波动？
生产筛选采用固定程序，设计极限探索单独标识，不混合统计。每次读取功能参数漂移沿用应力不过度破坏，并关联综合应力筛选与寿命评价设备日志。
03综合应力筛选与寿命评价怎样安排产品规格、薄弱部件和历史故障清单与温度范围、循环速率、振动谱和通电程序？
以电子与机电产品潜在缺陷的应力筛选作为主组，再按温度范围、循环速率、振动谱和通电程序分层；温度速率、振动响应和通电负载受监测，避免诱发非使用机理损伤。
04综合应力筛选与寿命评价的寿命消耗评价突变后，先看筛选应力历程还是缺陷检出率记录？
先将寿命消耗评价时刻与筛选应力历程、缺陷检出率和筛选与鉴定数据分开对齐，再结合结合材料疲劳、温度加速和任务载荷估算筛选带来的耐久消耗。
05综合应力筛选与寿命评价在哪些节点读取复筛与故障闭环更能反映过程？
在初始点、功能参数漂移阶段点和结束点记录复筛与故障闭环；样机、失效件、维修措施和复筛数据建立一一对应关系。
06复筛与故障闭环未达到设定终点，综合应力筛选与寿命评价结果怎样记录？
写明综合应力筛选与寿命评价实际历程、复筛与故障闭环状态及停止原因；末次功能参数漂移跟随单件编号保存。
07综合应力筛选与寿命评价为何保留筛选应力历程曲线，不用缺陷检出率平均值替代？
曲线呈现筛选应力历程的峰值和离散；结合缺陷检出率与复筛与故障闭环可识别均值掩盖的单件异常。
08综合应力筛选与寿命评价报告如何用功能参数漂移呈现样品差异，并用故障闭环到序列号说明设备稳定？
以功能参数漂移平行样统计表示样品差异，用故障闭环到序列号记录说明设备稳定，二者不合并。