检测范围
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓以触针或光学轮廓方式记录表面高度随位置的变化，测量台阶、膜厚、粗糙度和翘曲，用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化；结果可直接比较批次与工艺差异，报告包含膜厚换算与粗糙度参数的图表和参数。
膜厚换算
台阶仪与表面轮廓采用探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，膜厚换算支撑台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，对照条件为新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，在制备清晰台阶的位置测量覆盖层高度，并统计多条测线的平均与离散。
对象与条件
样品分组依据为新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，膜厚换算用于台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，结果关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，膜厚换算：在制备清晰台阶的位置测量覆盖层高度，并统计多条测线的平均与离散。 粗糙度参数：按规定评定长度和滤波截止计算Ra、Rq、Rz或面粗糙度参数，膜厚换算和粗糙度参数按照电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓样品序号同步编排，原始资料包括原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。 膜厚换算按测区编号归档，位置图列出工作面、测量方向以及扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，测量结果用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，台阶仪与表面轮廓适用于正负极片、集流体、催化层、膜电极、涂层见证片和反应前后功能表面。 膜厚换算测区安排：覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，电池、电极与催化材料的位置图标注膜厚换算测区、方向和编号，数据用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，报告提供原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，电池、电极与催化材料结果按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态分组。 结果采用台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价进行分析，膜厚换算与粗糙度参数执行探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，对照样按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白设置。
需要注意的限制
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果报告列明各技术的信息深度和横向分辨率，并记录离子刻蚀、表面清洁、测试时间和模型拟合对结果的影响。 电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果对应实际收到的样品、采用的台阶仪与表面轮廓条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
检测时需要注意什么
实施流程
1. 任务档案保存原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置，电池、电极与催化材料登记配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围，分组信息采用扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，拍摄样品全貌并建立测线与基准区域；2. 选择触针、测力、量程、速度和采样间距，电池、电极与催化材料样品采用标记涂布方向和活性面，按样品状态采用密闭转移，保留颗粒与涂层原始结构，清洁浮尘并标记扫描方向、台阶两侧基准面和兴趣区域，柔软表面采用合适测力，膜厚换算保留制样状态，制样状态对应扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态；3. 覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，采集数据用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，采集位置按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白设置，跨越目标结构采集原始高度轮廓；4. 实施倾斜校正、滤波、平台拟合和参数计算，复核记录关联原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置，膜厚换算和粗糙度参数按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态记录，对照组采用新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白；5. 电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓报告提供原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，膜厚换算和粗糙度参数结果按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态汇总，原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置随任务号归档，输出轮廓图、数值统计、测线坐标与处理参数
测力设置
触针载荷兼顾稳定跟踪与表面保护，软膜或胶层使用较低测力并检查压痕，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓执行测力设置控制，膜厚换算沿扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态比较，数据按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态分组。
基准面
新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白形成粗糙度参数对照，各组执行探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，对照关系采用新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，台阶两侧平台分别拟合，颗粒、边缘卷曲和划伤区域从基准计算中剔除并标记。
探针几何
尖端半径会钝化窄沟槽和陡坡的横向形貌，高度数据与扫描方向共同解释，原始资料保存为原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置，电池、电极与催化材料的探针几何记录包含配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围与原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
滤波口径
报告说明台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，膜厚换算和粗糙度参数写入原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，用途为台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，形状、波纹与粗糙成分按统一截止条件分离，批次比较沿用相同处理参数。
适用产品与样品
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓适用于以下产品、样品及技术问题。
适用产品和常见问题
- 样品分组依据为新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，膜厚换算用于台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，结果关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，膜厚换算：在制备清晰台阶的位置测量覆盖层高度，并统计多条测线的平均与离散。
- 粗糙度参数：按规定评定长度和滤波截止计算Ra、Rq、Rz或面粗糙度参数，膜厚换算和粗糙度参数按照电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓样品序号同步编排，原始资料包括原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
- 膜厚换算按测区编号归档，位置图列出工作面、测量方向以及扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，测量结果用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，台阶仪与表面轮廓适用于正负极片、集流体、催化层、膜电极、涂层见证片和反应前后功能表面。
- 膜厚换算测区安排：覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，电池、电极与催化材料的位置图标注膜厚换算测区、方向和编号，数据用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，报告提供原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，电池、电极与催化材料结果按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态分组。
- 结果采用台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价进行分析，膜厚换算与粗糙度参数执行探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，对照样按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白设置。
送样前需要准备什么
送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。
- 01
台阶仪与表面轮廓接收正负极片、集流体、催化层、膜电极、涂层见证片和反应前后功能表面，电池、电极与催化材料登记扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，膜厚换算作为主数据项，样品记录包含配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围。
- 02
膜厚换算数据保存电池、电极与催化材料的装样方向和表面状态，测区位置按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态编号，电池、电极与催化材料制样状态与新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白逐组对应，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓采用标记涂布方向和活性面，按样品状态采用密闭转移，保留颗粒与涂层原始结构，清洁浮尘并标记扫描方向、台阶两侧基准面和兴趣区域，柔软表面采用合适测力。
- 03
电池、电极与催化材料随样资料包括配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围，结果文件包含原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，粗糙度参数数据连同原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置归档。
- 04
样品按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态编号，膜厚换算与粗糙度参数按照探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数测量，比较样包括新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白。
- 05
覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，粗糙度参数保留独立原始数据，电池、电极与催化材料结果服务于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，复核资料归入原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
台阶仪与表面轮廓接收正负极片、集流体、催化层、膜电极、涂层见证片和反应前后功能表面，电池、电极与催化材料登记扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，膜厚换算作为主数据项，样品记录包含配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围。 膜厚换算数据保存电池、电极与催化材料的装样方向和表面状态，测区位置按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态编号，电池、电极与催化材料制样状态与新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白逐组对应，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓采用标记涂布方向和活性面，按样品状态采用密闭转移，保留颗粒与涂层原始结构，清洁浮尘并标记扫描方向、台阶两侧基准面和兴趣区域，柔软表面采用合适测力。 电池、电极与催化材料随样资料包括配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围，结果文件包含原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，粗糙度参数数据连同原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置归档。 样品按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态编号，膜厚换算与粗糙度参数按照探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数测量，比较样包括新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白。 覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，粗糙度参数保留独立原始数据，电池、电极与催化材料结果服务于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，复核资料归入原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
报告用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，结论说明台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价所反映的状态变化，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓技术报告列出膜厚换算、粗糙度参数和样品间差异。 电池、电极与催化材料数据附件包括原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置归入电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓任务档案，文件按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态分组。 粗糙度参数单列数据表，统计字段采用扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，对照关系采用新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，膜厚换算保留原始响应和处理参数。 电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓条件表记录扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态，复核资料包括原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置，方法记录列明探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数。 图表说明台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置对应膜厚换算和粗糙度参数的原始记录，对照图按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白编排。
检测项目
膜厚换算
台阶仪与表面轮廓采用探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，膜厚换算支撑台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，对照条件为新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白，在制备清晰台阶的位置测量覆盖层高度，并统计多条测线的平均与离散。
粗糙度参数
按规定评定长度和滤波截止计算Ra、Rq、Rz或面粗糙度参数，结果按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态分组，粗糙度参数沿扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态比较样品差异，翘曲与平面度写入原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
翘曲与平面度
样品记录包含配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围，电池、电极与催化材料保留电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓的位置图、方向与区域编号，翘曲与平面度用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，使用长行程或面扫描分离形状、波纹和局部粗糙成分。
位置重复性
在中心、边缘、工艺方向和异常位置使用统一参数形成可比轮廓，位置重复性给出台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，台阶高度由原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图呈现，前处理采用标记涂布方向和活性面，按样品状态采用密闭转移，保留颗粒与涂层原始结构，清洁浮尘并标记扫描方向、台阶两侧基准面和兴趣区域，柔软表面采用合适测力。
台阶高度
原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置支持结果复核，台阶高度反映电池、电极与催化材料的测量状态，交付文件包括原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，跨越裸基底与覆盖层采集连续轮廓，由两侧稳定平台的高度差计算台阶。
表面轮廓
沿加工、涂布或磨损方向记录峰谷、沟槽、边缘堆积和局部缺陷，原始资料归入原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置，表面轮廓与膜厚换算共同解释电池、电极与催化材料，台阶仪与表面轮廓记录扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态。
检测方法和流程
检测标准和方法
以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定，需结合对象、条件和委托要求确认。
共 4 项
报告和检测数据
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件；整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果报告列明各技术的信息深度和横向分辨率，并记录离子刻蚀、表面清洁、测试时间和模型拟合对结果的影响。
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果对应实际收到的样品、采用的台阶仪与表面轮廓条件和数据处理方法；样品或参数改变后按新条件复核可比性
仪器测试交付测量数据和技术说明；整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施
常见问题
01电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓可以量化哪些参数？
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓报告提供原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，膜厚换算呈现核心量值，粗糙度参数展示样品差异，报告用于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化。
02电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓送样类型有哪些？
电池、电极与催化材料按扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态登记批次与状态，随样资料包括配方、载量、涂布与辊压、循环或反应节点、荷电状态、转移环境和取样位置，基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围，台阶仪与表面轮廓适用于正负极片、集流体、催化层、膜电极、涂层见证片和反应前后功能表面。
03电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓制样时怎样标记？
台阶仪与表面轮廓制样采用标记涂布方向和活性面，按样品状态采用密闭转移，保留颗粒与涂层原始结构，清洁浮尘并标记扫描方向、台阶两侧基准面和兴趣区域，柔软表面采用合适测力，覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓报告附件收录基材、层序、名义厚度、加工方向、制备工艺、测区坐标和目标尺寸范围以及台阶仪与表面轮廓的工作面、测区编号和测量方向。
04电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓工艺前后怎样对比？
对照数据用于台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价，膜厚换算和粗糙度参数执行探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，参照样和目标样按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白编组。
05电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓哪些位置需要测？
覆盖涂层中心、边缘、颗粒富集区、集流体界面和指定异常区域，粗糙度参数按样品编号和扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态进入计算表，原始资料归入原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置。
06电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓参数一致性怎样保持？
质量记录列明探针半径、测力、扫描长度、速度、采样间距、水平校正和滤波参数，结果文件包含原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，台阶仪与表面轮廓检查膜厚换算的独立重复和粗糙度参数原始响应。
07电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓报告附件包含什么？
电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓交付原始轮廓、二维或三维高度图、台阶高度、膜厚、粗糙度、翘曲和测线位置图，交付内容服务于关联电极表面、涂层结构与循环或催化反应造成的材料变化，膜厚换算原始数据、粗糙度参数处理参数和原始轮廓、测线坐标、触针参数和滤波设置按编号关联。
08电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果可用于哪些判断？
样品差异按新鲜样、循环或反应后样、不同配方样和集流体空白解释，电池、电极与催化材料沿扫描方向、台阶基准、涂覆批次和加工状态比较批次或状态，电池、电极与催化材料台阶仪与表面轮廓结果用于台阶高度、膜厚、粗糙度与翘曲评价。