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仪器分析

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度

Integrating Sphere, Quantum Yield & Colour — Semiconductor & Optoelectronic Materials

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量。吸收光子与发射光子比值直接量化半导体发光转换效率。

检测内容
绝对量子产率 · 相对量子产率
适用对象
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的检测原理:在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率,使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。 · 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度适用于发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,由此布置绝对量子产率测区与相对量子产率方向。
方法标准
JY/T 0571-2020 · IEC 62607-3-1:2014
报告交付
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度技术报告列出绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率;使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。 · 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率标注绝对量子产率计算区间;由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差。
确认检测需求登记对象、检测目标和报告用途
样品登记登记数量、状态和制样要求
检查检测过程记录检测条件并审核原始数据
出具报告交付结果、附件和技术说明
01

检测范围

检测范围检测内容与适用对象

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量。吸收光子与发射光子比值直接量化半导体发光转换效率。

01项目内容

绝对量子产率

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的绝对量子产率:由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率。使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较;积分球、量子效率与色度数据表将绝对量子产率与相对量子产率按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

02适用情况

对象与条件

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的检测原理:在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率,使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度适用于发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,由此布置绝对量子产率测区与相对量子产率方向。 绝对量子产率、相对量子产率、光谱效率构成半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的基础测量,光通量、色坐标、透反射总量进一步呈现积分球、量子效率与色度过程和样品状态。 半导体光电样品依据在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量设置对照。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率,所得积分球、量子效率与色度数据以绝对量子产率比较批次,以相对量子产率呈现位置和处理变化,形成积分球、量子效率与色度对照结果。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度报告包含绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。分别测量总透射、漫透射、总反射和漫反射分量。

03结果解释

需要注意的限制

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件;整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果报告列明接触方式、样品厚度和方向、环境、光源、有效面积、扫速及模型;等效电路、能带与整机长期表现结合对照试验和整机数据评价。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果对应实际收到的样品、采用的积分球、量子效率与色度条件和数据处理方法;样品或参数改变后按新条件复核可比性 仪器测试交付测量数据和技术说明;整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施

技术说明

检测时需要注意什么

实施流程

1. 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度方案设计:根据材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度编排绝对量子产率和相对量子产率的测量顺序;2. 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度装样与定位:溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向;围绕色坐标完成试样编号与测点定位;3. 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度系统检查:完成积分球、量子效率与色度的积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置检查,随后建立色坐标基线、光通量空白与光谱效率参比;4. 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度程序执行:对器件各方向光谱功率积分获得总光通量。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率。分别测量总透射、漫透射、总反射和漫反射分量;5. 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度数据处理:复核曲线与计算结果,按绝对量子产率、色坐标和光谱效率整理绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:绝对量子产率控制

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的绝对量子产率样品状态控制包括:发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品依据绝对量子产率的测量方向制备;溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率;相应条件写入积分球、量子效率与色度的绝对量子产率数据表。

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:相对量子产率控制

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的相对量子产率测量条件控制包括:积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置分别记录在相对量子产率曲线和积分球、量子效率与色度条件表中。使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较;相应条件写入积分球、量子效率与色度的相对量子产率数据表。

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:光谱效率控制

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的色坐标数据完整性控制包括:色坐标原始信号、处理参数和绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线采用同一试样编号。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率;相应条件写入积分球、量子效率与色度的光谱效率数据表。

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度:光通量控制

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的光通量组间比较控制包括:积分球、量子效率与色度按照材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度解释批次差异;积分球、量子效率与色度的光通量同时呈现处理变化和测区分布。对器件各方向光谱功率积分获得总光通量;相应条件写入积分球、量子效率与色度的光通量数据表。

02

适用产品与样品

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度适用于以下产品、样品及技术问题。

适用产品和常见问题

  • 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的检测原理:在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率,使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。
  • 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度适用于发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,由此布置绝对量子产率测区与相对量子产率方向。
  • 绝对量子产率、相对量子产率、光谱效率构成半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的基础测量,光通量、色坐标、透反射总量进一步呈现积分球、量子效率与色度过程和样品状态。
  • 半导体光电样品依据在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量设置对照。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率,所得积分球、量子效率与色度数据以绝对量子产率比较批次,以相对量子产率呈现位置和处理变化,形成积分球、量子效率与色度对照结果。
  • 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度报告包含绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。分别测量总透射、漫透射、总反射和漫反射分量。
03

送样前需要准备什么

送样信息包括材质、形态、批次、保存条件、目标参数及制样要求。

  1. 01

    半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品包括发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,按基底、膜厚与制程状态取样,用于积分球、量子效率与色度的绝对量子产率测量。

  2. 02

    半导体与光电材料积分球、量子效率与色度制样时,溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向。绝对量子产率测区与相对量子产率方向分别标记。

  3. 03

    材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度写入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品清单;积分球、量子效率与色度以绝对量子产率测区编号,相对量子产率程序分别保存。

  4. 04

    半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率安排绝对量子产率平行样,并将由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差对应的测点标入位置图。

  5. 05

    对器件各方向光谱功率积分获得总光通量。半导体与光电材料积分球、量子效率与色度对照样按绝对量子产率、相对量子产率、色坐标和半导体光电的光通量状态排列,透反射总量纳入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度原始记录。

准备资料样品和资料要求

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品包括发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,按基底、膜厚与制程状态取样,用于积分球、量子效率与色度的绝对量子产率测量。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度制样时,溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向。绝对量子产率测区与相对量子产率方向分别标记。 材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度写入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品清单;积分球、量子效率与色度以绝对量子产率测区编号,相对量子产率程序分别保存。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率安排绝对量子产率平行样,并将由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差对应的测点标入位置图。 对器件各方向光谱功率积分获得总光通量。半导体与光电材料积分球、量子效率与色度对照样按绝对量子产率、相对量子产率、色坐标和半导体光电的光通量状态排列,透反射总量纳入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度原始记录。

项目结果本页列出的结果内容

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度技术报告列出绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率;使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率标注绝对量子产率计算区间;由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差。 使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。相对量子产率原始信号与透反射总量处理文件共同归入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度数据包。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度条件表记录积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率,并形成光谱效率对照图。 半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品表收录材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度;对器件各方向光谱功率积分获得总光通量,其光通量结果用于半导体光电材料的绝对量子产率对比、相对量子产率批次差异和色坐标工艺状态分析。

04

检测项目

01

绝对量子产率

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的绝对量子产率:由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率。使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较;积分球、量子效率与色度数据表将绝对量子产率与相对量子产率按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

02

相对量子产率

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的相对量子产率:使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率;积分球、量子效率与色度数据表将相对量子产率与光谱效率按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

03

光谱效率

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的光谱效率:结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率。对器件各方向光谱功率积分获得总光通量;积分球、量子效率与色度数据表将光谱效率与光通量按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

04

光通量

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的光通量:对器件各方向光谱功率积分获得总光通量。由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差;积分球、量子效率与色度数据表将光通量与色坐标按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

05

色坐标

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的色坐标:由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差。分别测量总透射、漫透射、总反射和漫反射分量;积分球、量子效率与色度数据表将色坐标与透反射总量按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

06

透反射总量

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的透反射总量:分别测量总透射、漫透射、总反射和漫反射分量。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率;积分球、量子效率与色度数据表将透反射总量与绝对量子产率按半导体与光电材料积分球、量子效率与色度试样编号排列。

05

检测方法和流程

受理前需要确认什么受理前需确认对象、样品状态、方法适用性和实施条件;具体检测范围、进度与报告要求以双方确认的方案为准。
06

检测标准和方法

以下是本页引用的标准与方法资料。具体项目是否适用、采用哪个版本及如何判定,需结合对象、条件和委托要求确认。

2 项标准共列出 2 项标准与方法。

共 2 项

JY/T 0571-2020中国标准荧光光谱分析方法通则半导体与光电材料积分球、量子效率与色度按JY/T 0571-2020规定稳态与时间分辨荧光光谱的激发、发射、仪器响应、校正和谱图记录通则。教育部 · 现行/Published · 查看发布机构来源
IEC 62607-3-1:2014国际标准Nanomanufacturing — Key control characteristics — Part 3-1: Luminescent nanomaterials — Quantum efficiency半导体与光电材料积分球、量子效率与色度按IEC 62607-3-1:2014测量发光纳米材料量子效率,记录激发波长、发射光谱、积分球条件和效率结果。International Electrotechnical Commission · PUBLISHED · 查看发布机构来源
07

报告和检测数据

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度技术报告列出绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率;使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率标注绝对量子产率计算区间;由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差。
使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。相对量子产率原始信号与透反射总量处理文件共同归入半导体与光电材料积分球、量子效率与色度数据包。
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度条件表记录积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率,并形成光谱效率对照图。
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度样品表收录材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度;对器件各方向光谱功率积分获得总光通量,其光通量结果用于半导体光电材料的绝对量子产率对比、相对量子产率批次差异和色坐标工艺状态分析。
常见报告用途
半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的绝对量子产率数据用于半导体光电材料的绝对量子产率对比、相对量子产率批次差异和色坐标工艺状态分析:由积分球内激发光减少量和发射光子数计算光致发光量子产率。相对量子产率曲线能够评价半导体光电样品的批次、工艺和状态变化;使用已知荧光标准在匹配吸光度和光谱响应下进行比较。结合输入光子或电功率计算外部量子效率及功率效率,因此半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的光谱效率结果可用于半导体光电材料的绝对量子产率对比、相对量子产率批次差异和色坐标工艺状态分析。半导体与光电材料积分球、量子效率与色度的光通量图表可纳入半导体光电材料的积分球、量子效率与色度技术资料,图中同时说明对器件各方向光谱功率积分获得总光通量。
检测结果说明

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果报告对应实际样品、测点、量程和测量条件;整批评价按照约定取样方案、对照设置和判定依据执行

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果报告列明接触方式、样品厚度和方向、环境、光源、有效面积、扫速及模型;等效电路、能带与整机长期表现结合对照试验和整机数据评价。

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度结果对应实际收到的样品、采用的积分球、量子效率与色度条件和数据处理方法;样品或参数改变后按新条件复核可比性

仪器测试交付测量数据和技术说明;整批质量判定、产品认证、法定鉴定和监管事项按照相应程序实施

08

常见问题

01半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时测哪些数据?

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度包含绝对量子产率、相对量子产率、光谱效率,并分析光通量、色坐标、透反射总量。光谱功率、相关色温、显色参数与原始曲线一并交付。

02半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时适用于哪些样品?

发光粉体、量子点溶液、荧光薄膜、LED、涂层、透明或漫反射材料和光电转换样品都可以开展半导体与光电材料积分球、量子效率与色度。溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向,按基底、膜厚与制程状态取样,用于积分球、量子效率与色度的绝对量子产率测量,测区与方向按照绝对量子产率要求布置。

03半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时怎样制样?

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度制样执行以下步骤:溶液控制浓度与比色皿位置,粉体平整装入样品皿,薄膜与器件固定入射面和出光方向。样品表记录材料组成、浓度、膜厚、基底、激发波长、吸收范围、封装结构、驱动条件和环境温度。

04半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时记录哪些条件?

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度记录积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置。对器件各方向光谱功率积分获得总光通量,积分球、量子效率与色度把光通量设置与原始信号统一编号,并在积分球、量子效率与色度报告中逐项对应。

05半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时如何设置对照?

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度依据在积分球内收集各方向发射、透射或反射光,结合光谱响应计算量子产率、色坐标和总光通量建立对照组。由发射或透反射光谱计算CIE色品坐标及色差,批次、位置和处理状态分别对应积分球、量子效率与色度的色坐标曲线。

06半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时怎样评价重复性?

积分球、量子效率与色度围绕绝对量子产率安排同条件平行测量,并复核相对量子产率响应;半导体与光电材料积分球、量子效率与色度使用积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置。色坐标原始信号、处理参数和绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线采用同一试样编号;报告按绝对量子产率列出单次值、平均值与离散统计,形成积分球、量子效率与色度重复性结论。

07半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时报告有哪些内容?

半导体与光电材料积分球、量子效率与色度报告包含绝对或相对量子产率、光谱功率、色坐标、相关色温、显色参数、光通量和效率曲线。报告附积分球端口、挡板、标准灯与标准白板、光谱响应、暗电流、激发功率、吸收修正和样品位置,并保留透反射总量原始数据。

08半导体光电材料做积分球、量子效率与色度时结果怎么使用?

绝对量子产率反映材料把吸收光转化为发光的能力,结合色坐标可比较发光效率、光谱纯度和配方优化效果。

相关服务

相关分类和检测项目